Nikon N-SIM/ N-STORM Nikon N-SIM/ N-STORM

НИИ Физико-химической биологииимени А. Н. Белозерского МГУ

  2. Отделы и лаборатории
  3. Центры коллективного пользования
  4. ЦКП НИИ ФХБ "Субдифракционная микроскопия"
  5. Nikon N-SIM/ N-STORM

Nikon N-SIM/ N-STORM

Nikon N-SIM/N-STORMМикроскоп с суперразрешением Nikon N-SIM/N-STORM представляет собой комбинацию двух технологий микроскопии сверхвысокого разрешения, SIM и STORM, на одной станине. Микроскопия сверхвысокого разрешения позволяет преодолевать дифракционный барьер и добиваться недоступного для классической флуоресцентной микроскопии разрешения в том числе при прижизненной съемке.

Благодаря использованию режима структурированного освещения технология N-SIM теоретически позволяет достичь разрешения до 80 нм в режиме SIM-TIRF, преодолевая дифракционный барьер разрешения оптической микроскопии. Возможна прижизненная съемка. подробнее >>

Технология суперразрешения N-STORM (на основе локализационной микроскопии) позволяет еще значительнее, до 10 раз, улучшить разрешение получаемых изображений по сравнению со стандартной оптической микроскопией, вплоть до 20 нм. подробнее >>